M470完美的平衡了高掃描率、高分辨率和高精度建立了解決空間電化學測量的新標準。

       出色的性能:

       快速精確的閉環(huán)定位系統(tǒng)為帶你花些掃描探針那墨跡研究的需求而特別設計。結合Uniscan堵車的混合型32-bitDAC技術，用戶可以選擇審核實驗研究的優(yōu)異配置。

       先進、靈活的工作平臺:

       系統(tǒng)可提供9種探針技術，使得M470成為全球較靈活的電化學掃描探針工作平臺。

       M470 定位系統(tǒng):

       超高分辨率掃描平臺允許更長的行進距離

M470全新一代掃描平臺擠成了更高的分辨率、更長的行進距離以及掃描速率。

交流掃描（ac-）和間歇接觸（ic-）掃描探針技術，提供壓電為在Z軸方便精確定位，以探表面形貌。

采用20-bitDAC控制壓電范圍以及控制定位到0.09nm，M470增強了重復性、加快了掃描速度、縮短了測試樣品時間，這使得M470可以應用于非穩(wěn)態(tài)系統(tǒng)的研究。

? SECM 自動處理曲線
? SECM用戶自定義處理曲線步長變化
? 高分辨讀取
? 手動或自動調節(jié)相位
? 傾斜校正
? X或Y曲線相減（5階多項式））
? 2D 或3D快速傅里葉變化
? 試驗探針移動和區(qū)域繪圖的自動排序
? 圖形實驗測序引擎（GESE）
? 支持多區(qū)域掃描
? 所有實驗多個數據視圖
? 峰值分析

M470技術參數

工作站（所有技術）

掃描范圍（x,y,z）              大于100nm

掃描驅動分辨率                 最高0.1nm

閉環(huán)定位                           線性零滯后編碼器，直接實時讀出x,z和y位移

軸分辨率（x,y,z）             20nm

最大掃描速度                    12.5mm/s

測量分辨率                       32-bit解碼器@高達40MHz

壓電（ic-和ac-掃描探針技術）

振動范圍                          20nm~ 2μm峰與峰之間1nm增量

最小振動分辨率                0.12nm(16-bit DAC,4μm)

壓電晶體伸展                   100μm

定位分辨率                      0.09nm(20-bit DAC ,100μm)

機電

掃描前端                         500×420×675mm(H×W×D)

掃描控制單元                  275×450×400mm(H×W×D)

功率 250W