納米粒度及Zeta電位分析儀

　納米粒度及Zeta電位分析儀是由新型的光學(xué)系統(tǒng)、電泳池、數(shù)據(jù)采樣和數(shù)據(jù)處理等部分組成，實(shí)現(xiàn)了由PC個(gè)人微機(jī)對(duì)采樣模塊的控制及后期數(shù)據(jù)處理的一體化設(shè)計(jì)，與其它同類產(chǎn)品相比，它具有更多的性能。

　　Zeta電位分析儀的主要用途之一就是研究膠體與電解質(zhì)的相互作用。由于許多膠質(zhì)，特別是那些通過離子表面活性劑達(dá)到穩(wěn)定的膠質(zhì)是帶電的，它們以復(fù)雜的方式與電解質(zhì)產(chǎn)生作用。與它表面電荷極性相反的電荷離子會(huì)與之吸附，而同樣電荷的離子會(huì)被排斥。因此，表面附近的離子濃度與溶液中與表面有一定距離的主體濃度是不同的?？拷砻娴目购怆x子的積聚屏蔽了表面電荷，因而降低了Zeta電位分析儀。對(duì)許多熟悉利用此法進(jìn)行高分子分離的人來說，顆粒電泳也是一個(gè)類似現(xiàn)象。懸浮于介質(zhì)中的顆粒被置于一電場(chǎng)中；如果帶電他們會(huì)在電場(chǎng)產(chǎn)生流動(dòng)，陽性顆粒朝負(fù)極流動(dòng)，陰性顆粒朝正極流動(dòng)。

　　然而，顆粒并不是獨(dú)自流動(dòng)，他們周圍會(huì)攜帶一薄層離子和溶劑。這一分離固定媒介與移動(dòng)顆粒及其攜帶的離子和溶劑的界面叫做流體剪切面，而納米粒度及Zeta電位分析儀正是這一界面的電位。因此Zeta電位分析儀可以通過測(cè)量顆粒在已知電場(chǎng)中的流速來測(cè)定。早期的測(cè)量?jī)x器通過充滿誤差，慢速度的手動(dòng)方法觀察顆粒，并自動(dòng)計(jì)算樣品中zeta電位的分布。

　　Zeta電位分析儀的測(cè)量使我們能夠詳細(xì)了解分散機(jī)理，它對(duì)靜電分散控制至關(guān)重要。對(duì)于釀造、陶瓷、制藥、藥品、礦物處理和水處理等各個(gè)行業(yè)，納米粒度及Zeta電位分析儀是重要的參數(shù)。