納米粒度及Zeta電位分析儀

　納米粒度及Zeta電位分析儀是由新型的光學系統、電泳池、數據采樣和數據處理等部分組成，實現了由PC個人微機對采樣模塊的控制及后期數據處理的一體化設計，與其它同類產品相比，它具有更多的性能。

　　Zeta電位分析儀的主要用途之一就是研究膠體與電解質的相互作用。由于許多膠質，特別是那些通過離子表面活性劑達到穩定的膠質是帶電的，它們以復雜的方式與電解質產生作用。與它表面電荷極性相反的電荷離子會與之吸附，而同樣電荷的離子會被排斥。因此，表面附近的離子濃度與溶液中與表面有一定距離的主體濃度是不同的。靠近表面的抗衡離子的積聚屏蔽了表面電荷，因而降低了Zeta電位分析儀。對許多熟悉利用此法進行高分子分離的人來說，顆粒電泳也是一個類似現象。懸浮于介質中的顆粒被置于一電場中；如果帶電他們會在電場產生流動，陽性顆粒朝負極流動，陰性顆粒朝正極流動。

　　然而，顆粒并不是獨自流動，他們周圍會攜帶一薄層離子和溶劑。這一分離固定媒介與移動顆粒及其攜帶的離子和溶劑的界面叫做流體剪切面，而納米粒度及Zeta電位分析儀正是這一界面的電位。因此Zeta電位分析儀可以通過測量顆粒在已知電場中的流速來測定。早期的測量儀器通過充滿誤差，慢速度的手動方法觀察顆粒，并自動計算樣品中zeta電位的分布。

　　Zeta電位分析儀的測量使我們能夠詳細了解分散機理，它對靜電分散控制至關重要。對于釀造、陶瓷、制藥、藥品、礦物處理和水處理等各個行業，納米粒度及Zeta電位分析儀是重要的參數。