Amerigo高分辨納米粒度和zeta電位分析儀

l 結合Wallis和Vasco Kin的功能，具有高分辨測量能力

l 非接觸遠程測量納米粒度的動力學分析

l zeta電位的可編程動力學實驗（zeta 對 溫度/pH/時間）

l 動態時間切片功能，可進行數據后處理

l 可選高濃度Flex探頭，連續監測漿料的粒度變化